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TSE-432F单视野拼接测量仪
产品特点
TSE-400系列拼接式闪测仪采用双远心光学系统，结合高精度图像拼接测量算法。在CNC模式下，任意放置工件后，只需按一下启动键，即可快速完成尺寸测量和评价，能快速测量产品的平面尺寸和形位公差。仪器量测测量效率是传统影像仪器的10-20倍。
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