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VE150O立式闪测仪
产品特点
VE 系列闪测仪采用双远心光学系统，结合高精度图像拼接测量算法。能快速测量产品的平面尺寸和形位公差，测量效率是传统影像仪器的10-20倍。大视野影像闪测、高精度、全自动测量，录入测量程序后，只需把工件放置到有效测量区域，然后轻轻按一键测量，自动匹配测量。
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  • 技术参数

闪测仪

























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